"박막 측정 AFM" 검색결과 21-40 / 108건

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  2020 바이노 나노 소재 예비보고서 A+

  샘플의 투과도를 측정하고, Glass와 비교한다.2) AFM 장비를 이용한 나노 표면 패턴 분석1. 샘플을 준비한다.2. ... membrane과 같은 freestanding한 거시적인 막을 만들어내거나, hollow capsule같은 마이크로 혹은 나노크기의 freestanding한 막을 만들어 낼 수 있다.이러한 박막의 ... SFM의 very-high-resolution 유형의 하나이다.AFM은 견본 표면을 스캔하기 위해 사용하는 그것의 끝에서 뾰족한 끝(탐침)과 함께 캔틸레버로 구성한다.

  리포트 | 10페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.01.02

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  2-2. AMOLED Full Device - Polymer report (A+)

  그리고 별도의 설비 없이 일반적인 코팅장비에서 박막의 적층이 가능하고, 박막의 표면이 고르고, polymer의 합성 및 기술에 따라 두께, 친수도, 흡광도, 굴절률 등을 쉽게 조절할 ... AFM으로 본 모습, 그림 (g), (h), (i). FE-SEM으로 본 모습Surface Energy가 강할수록 Contact Angle은 작아지면서 물방울이 퍼지게 된다. ... 그 이물질들이 기판에 증착되는 것을 막아주기 위해 없애준다.)⑩ 증착이 된 기판에 가운데 사진의 스티커를 붙이고, Chamber밖으로 꺼내어 CS-2000을 통해 소자의 특성을 측정한다.그래프

  리포트 | 10페이지 | 15,000원 | 등록일 2023.07.30 | 수정일 2023.08.18

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  집적회로 소자 공정 미세 분석법 결과보고서

  (a=0.2866nm, λ=0.154nm(kα1), n=1)4) 추가적인 물성 측정 장치인 SEM, AFM, TEM, Raman, PL, AES, XPS의 분석 원리/응용범위를 정리하여 ... analysis주로 실리콘, 화합물 반도체, 초전도체, 세라믹 등 원재료의 격자상수, 결정면 등을 분석할 때 이용되며 Laue diffraction pattern 등도 연구할 수 있다.박막 ... 본 실험을 통해 결정(crystalline) 측정을 통해 구성 물질을 파악하는데 그 목적이 있다.

  리포트 | 4페이지 | 1,500원 | 등록일 2021.09.25

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  [신소재공학실험]Micro-Raman

  특히 소량의 박막 결정 방위의 측정에는 자주 Raman 측정이 이용된다. ... Raman분광기를 이용하여 TEM이나 AFM으로도 관찰할 수 없었던 나노 구조를 측정할 수 있게 되었다. ... 또한 Raman 분광기를 이용하여 DLC(Diamond Like Carbon), 다이아몬드, Graphite, 탄소 박막 등의 품질 분석 또한 가능하다.Fig.5 결정성에 따른 Raman

  리포트 | 5페이지 | 2,000원 | 등록일 2019.12.08 | 수정일 2020.08.13

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  [신소재기초실험]산화 공정 - Oxidation Process

  그리고 최종적으로 AFM을 사용하여 산화막의 두께를 측정하고 실험값을 분석한다. ... 그러므로 고품질의SiO _{2} 박막을 성장시키는 산화기술은 반도체 공정에서 매우 중요하다.2. 실험 이론 및 원리가. ... 1min 동안 담가 놓는다.2) D.I (de-ionized) water로 충분히 헹군다.3) Si wafer를 B.O.E에 넣어 10sec동안 etching한다.제거한다.2) AFM을

  리포트 | 8페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.04.13 | 수정일 2020.08.13

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  [A+리포트] 그래핀의 이해 및 연구동향

  오늘날 그래핀은 우주에서 가장 얇고 지금까지 측정했던 물질 중 가장 강력할 뿐만 아니라 전기, 열, 기계, 전자, 광학적 특성이 뛰어나서 가장 매력적인 나노 물질이다. ... Konstantin Sergeevich Novoselov 외 연 작용제에 의해 박리될 수 있으며 전송 인쇄 기법 등에 의해서도 박리될 수 있다.기계적 박리법에 의해 얻어진 그래핀을 대상으로 AFM ... 분산되어 있는 산화 흑연 박막판 초음파 처리 또는 급속 가열을 통해 산화 그래핀으로 박리할 수 있다.

  리포트 | 23페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.11.16

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  Exp2. Nanofabrication by Polymer Self-Assembly

  이때 스핀 코팅으로 쿼츠기판에 BCPs에 박막을 씌우고 PVP와 친화성이 좋은 용매를 처리하면 육각형의 mesopores모양으로 reconstruct된다. ... AFM은 미세한 탐침의 끝과 절연물인 시료표면의 원자 사이의 힘을 이용하여 시료 표면의 거친 정도를 분석할 수 있다.Experimental sectionSynthesis of AuNPs ... 합성한 AuNPs의 UV spectrum을 측정해 AuNPs의 광학적인 특성을 확인할 수 있었다.

  리포트 | 9페이지 | 2,500원 | 등록일 2023.06.19

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  콘크리트 SEM&XRD

  선 , 전자 , 중성자 등 01 02 03 04 PROBE/SOURCE 시료 이미지 / 신호 데이터 수집 및 처리 변환 Materials Characterization 표면 , 박막 ... Diffraction) 분광기 ( Spectroscopy) 현미경 (Microscopy) 구조 조성 화학결합 전자밴드 구조 표면형상 미세구조 형태 XRD XPS AES FT-IR SEM TEM AFM ... Dispersive Spectrometer) WDS (Wave Dispersive Spectrometer) 1 차 전자빔을 시편에 주사하여 발생하는 특성 X 선의 세기를 검출 원소 분포도 측정

  리포트 | 48페이지 | 5,000원 | 등록일 2018.04.27 | 수정일 2018.04.30

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  Nanofabrication by Polymer Self-assembly

  AFM은 atomic force microscope의 약자로 탐침을 통해 시료 표면에 원자 단위의 미세한 크기까지 근접시켜 표면의 원자 구조와 형태를 측정하는 현미경이다. ... UV/vis spectrometer로 absorbance 측정4. ... 위치하는 micelle이고, 다른 하나는 소수성 물질이 바깥에 위치하는 inverse micelle이다.Surface Plasmon은 나노 스케일의, 주로 금과 은 등과 같은 금속 박막

  리포트 | 9페이지 | 2,000원 | 등록일 2019.05.12

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  AFM정의, 특징

  (SEM등으로 관찰할 수 없는 수nm(나노미터)정도의 미세구조.2)Si 웨이퍼, 광학부품, 박막 등의 정밀가공 표면의 거칠기 측정, 단면형상계측.3)전자현미경으로 관찰하기 어려운 절연시료 ... (고분자, 유기박막, 세라믹) 관찰. ... AFM으로 할 수 있는 것은?

  리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.10.04

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  표면 분석(AES/SAM)

  왼쪽이 표면의 형상을 나타내는 AFM 사진이고, 오른쪽이 물질의 단단한 정도를 나타내는 FMM 사진으로서, 이 사진은 AFM으로 시료에 가해주는 힘의 크기를 각 지점에서 변화 시킴으로써 ... , Ge-Si(100) 초박막의 계면 MEIS 실험의 주요 결과로 원자층 분해능으로 화학조성 깊이분포 분석, 결함 혹은 결정 응력 분포 측정, 등에 대하여 간단히 기술하여 MEIS ... 현재 이 MEIS 장비의 UHV-ion beam assisted deposition 박막 성장 장비를 연결하여 epi-초박막의 성장 과정, 초박막과 기판의 계면 구조, 저에너지 이온과

  리포트 | 37페이지 | 1,500원 | 등록일 2017.09.22

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  접촉각 측정 및 표면개질 실험 순서

  Dip-pen nanolithography는 AFM(atomic force microscopy)의 tip에서 ink 분자가 표면으로 옮겨가는 과정을 통해 표면에 나노크기의 유기분자 ... 제조 :본 발명은 차세대 플렉시블디스플레이등으로 응용이 가능한 유기박막트랜지스터(OTFT)의 유기보호막 표면을 소수성 (불소계) 물질로 자기조립박막기술을 이용하여 단분자막을 형성함으로써 ... 젖음성을 측정하는 방법에는 간단하게 접촉각 측정(contact angle)이 있다.

  리포트 | 9페이지 | 1,500원 | 등록일 2018.10.09 | 수정일 2023.02.03

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  원자력현미경AFM(atomic force microscope)

  나노박막식 - 나노 박막을 물에 띄운뒤 기존 실리콘 탐침을 박막에 담궜다가 꺼내는 방식.AFM등 원자 현미경 생산 업체*회사명 : (주)파크 시스템스 (Park Systems) 주요사업 ... *AFM 측정 모드별 장/단점 비교AFM에서 일반적으로 사용되는 측정방식 Contact Mode, Non-contact Mode 로는 연질의 시료인 경우 손상으로 정확한 시료관찰이 ... 측정. 0.01nm정도의 미세한 움직임 까지 측정가능 바늘 끝의 움직임을 구동기에 feedback하여 AFM의 Cantilever가 일정하게 휘도록 유지시키면 탐침 끝과 시료의 간격이

  리포트 | 14페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.07.28

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  [나노소재공학실험]SWNT 합성

  Hone등은 상온에서 s AFM을 이용하여 지지체에 고착되지 않는 나노튜브의 한 끝을 평형상태에서 벗어나게 하고, 이때 tip에 작용하는 힘을 기록함으로서 modulus를 측정하였다 ... 실험에서 가장 중요한 실험 방법인 Spin coating과 E beam에 대해서 알아보자 이 공정은 샘플을 만들기 위한 샘플제조공정이다.1) Spin Coating수십 년 동안 박막 ... 그러나 1999년 Forro등은 AFM을 이용하여 MWNT의 경우에 modulus가 지름에 크게 의존하지 않고, 나노튜브내의 결함등의 구조적인 면에 크게 의존한다고 보고하였다.

  리포트 | 13페이지 | 4,200원 | 등록일 2018.10.09 | 수정일 2020.08.05

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  박막 분석 장비의 원리와 종류 (SEM, 4-Point Probe, XRD, AFM, EFM)

  (Atomic Force Microscope)제 1 절 AFM의 측정원리14제 2 절 AFM cantilever의 탄성계수15제 3 절 Input force, Fz 결정16제 4 절 ... AFM 3D i 영상형성 과정은 광학현미경이나 TEM과는 다르다. ... Rocking curve analysis3) 박막회절분석(TFD: thin film diffractometry)x선은 수 mm 이상의 깊이까지 침투하여 회절하므로 박막 두께가 수 천

  리포트 | 22페이지 | 2,500원 | 등록일 2015.01.08 | 수정일 2023.04.29

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  AFM 실험결과보고서

  연구목적- 증착시간 변수에 따른 RF Sputtering system을 통한 TCO 기반 TiO2 박막 코팅을 실시함으로써 그 원리 및 작동방법을 이해하고, AFM 및 α - step ... 시료 표면에 가까워질수록 척력이 작용하여 알짜 힘(합력)은 척력이 된다.③ 측정모드별 장단점AFM에서 일반적으로 사용되는 측정방식으로는 Contact Mode, Non-contact ... -쉽게 구부러지며 끝부분에는 탐침이 있다.② 측정모드 및 원리"AFM"에서는 STM과는 달리 W 또는 Pt 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데 이 프로브는 프로브의 모판(

  리포트 | 11페이지 | 4,000원 | 등록일 2014.10.12

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  각종 실험도구들(GC,NMR,SEM,Mass,SPM)정리한 레포트입니다.

  -분말, bulk 및 박막의 결정구조 분석-결정성 및 배향성 측정-온도변화에 따른 결정구조의 변화 측정-(약학) 결정성 약물을 만드는 데 사용 ⇒ 약물 purity 증가-DSC와 함께 ... 또한 기체나 액체 시료는 분석이 불가능하며 살아있는 시료는 다른 현미경을 이용해 관찰하는 것이 좋다.1)AFM(Atomic Force Microscope) : SPM의 가장 기본이 ... 성분 분석6) Depth profile을 통한 박막의 성장 메카니즘 규명7) 표면의 원소에 대한 정량 분석6.

  시험자료 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2017.06.07 | 수정일 2017.06.08

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  Surface characterization with AFM

  self-assembly 시킴Gold 박막 위의 위에 올려진 1,4-dithiane은 전기가 통하지 않는데 STM으로는 측정이 불가능 하여 이 논문에서 AFM을 이용함Surface ... peptide fibrils by AFM charge writingAFM의 원리 및 측정방식에 대해 자세히 알아보았습니다. ... 결합력 측정AFM probe tip attached Au nanoparticle for single molecular force spectroscopyPatterning amyloid

  리포트 | 24페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.11.30

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  산화 공정

  -AFM 측정원리 및 구조AFM의 측정 방식에는 Contact Mode와 Dynamic Mode가 있다. ... STM이 도체 표1면만을 측정하는 것과 달리 AFM은 시료의 전기적인 특성과 무관하므로 도체, 반도체 및 부도체등 모든 시료의 분석에 범용적으로 이용되고 있다. ... .* inspection 공정① 일부분을 제외한 나머지부분의 산화막을 B.O.E를 이용하여 제거한다.② AFM을 이용하여 산화막의 단차를 측정한다.3.이론적 배경-산화 공정의 정의반도체

  리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2014.04.03

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  산화 공정 (Oxidation) 분석 [A+]

  AFM측정 하는 과 정에서도 오차가 생긴다. AFM을 통해서 산화막을 두께를 측정한 결 과, 각 시간 별마다 4번의 측정을 하였다. 4번의 측정값에서 ?Z를 평 균내어서 평균? ... 실리콘 산화막은 실리콘 표면에 원하지 않는 오염을 방지하는 역할 뿐 아니라 반도체소자에 서 매우 우수한 절연체로 전류와 도핑물질의 이동을 막는데 사용되는 물질로 고품질 의 SiO₂박막을 ... 그리고 최종적으 로 AFM을 사용하여 산화막의 두께를 측정하고 실험값을 분석한다. 이번 실험은 불순물에 예민한 실리콘을 사용하기 때문에 실험에 대한 오차의 영향이 많다.

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.11.23

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