"electron microscope" 검색결과 341-360 / 697건

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  Nanowire 기술동향 및 AlN nanowire by HVPE

  Microscope)을 통해서 단결정임을 확인하였다.2.2. ... Microscope)의 분석을 통해서 V-S mechanism을 통해서 성장된 나노 구조체의 특징인 팁 끝에 액적이 없는 것과 buffer layer의 생성을 확인할 수 있었다. ... 피크인 (002)와 (100), (101)을 통해서 hexagonal의 결정구조를 가지는 질화 알루미늄을 확인할 수 있었다.FE-SEM(Field Emission Scanning Electron

  리포트 | 11페이지 | 1,500원 | 등록일 2012.05.01

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  TEM(투과전자현미경)의 원리, 특성과 SEM과의 비교

  microscope) SEM (scanning electron microscope)TEM과 SEM의 비교TEM (transmission electron microscope) SEM ... (scanning electron microscope)TEMSEMTEM과 SEM의 비교TEM (transmission electron microscope) SEM (scanning ... microscope) SEM (scanning electron microscope)차이점 TEM 시편을 투과한 전자들을 분석하여, 재료 내부 구조를 분석 SEM은 시편으로 부터 발생된

  리포트 | 18페이지 | 2,000원 | 등록일 2008.10.28

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  FE-SEM EBSD 장비를 이용한 시료의 집합조직 분석

  원리 및 이를 이용한 집합조직 분석법에 대해 조사.2.1 SEM)2.1.1 SEM : 주사형 전자현미경(Scanning Electron Microscope : SEM)은 가느다란 전자빔을 ... 때문에 재료의 어느 정도 한계가 있을 수 밖에 없어, 보완하기 위해 SEM에서 입사빔과 고각을 이루는, 후방으로 산란되는 Kikuchi 회절도형으로 결정 방위를 측정하는 EBSD(Electron

  리포트 | 2페이지 | 2,000원 | 등록일 2011.09.16 | 수정일 2024.05.29

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  Handling of Microscope

  광학현미경은 광원의 종류와 광선의 유도방식에 따라 여러 가지 형태의 현미경이 개발되어 사용되고 있다.2) 전자현미경 : 전자현미경은(electron microscope)은 광학현미경의 ... 현미경의 종류1) 광학 현미경 : 가시광선을 이용하는 현미경을 총칭하여 광학현미경(light microscope, optical microscope)이라고 하며, 오늘날 상용되는 현미경은 ... 전자현미경에서 시료로부터 상을 맺게 하는 것은 진공상태에서만이 가능하므로 생체표본을 직접 적용시킬 수 없고, 또한 검경을 위한 적당한 시료를 만드는 데는 전자(electron)의 투과성

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.03.12

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  주사 전자 현미경(SEM), X-선 회절(XRD), 말뚝지지 전면기초(Piled Raft Foundation)의 하중-침하곡선

  문)주사 전자 현미경(SEM;scanning electronical microscope)답.Ⅰ.주사 전자 현미경 원리주사 전자 현미경(SEM;scanning electronical ... microscope)의 분석 원리는 광선의 세기, 직경, 거리를 적정하게 한 전자를 시료 표면에 주사 시키고(scanning)영상을 얻기위해 형광면에 주사시킴으로써 상((image)

  시험자료 | 5페이지 | 1,500원 | 등록일 2011.10.05

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  NOM fouling mechanisms in a hybrid adsorption/membrane system

  microscope (JSM-7400F, JEOL Ltd., Japan) Coating system (Gatan, Model 682, Pleasanton, CA) : membrane ... : TOC analyzer (OI Analytical, Model 1010, College Station, TX) SEM image : field emission scanning electron

  리포트 | 28페이지 | 3,000원 | 등록일 2014.05.16

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  리튬이온이차전지 첨단기기 분석(li-ion battery)

  Microscope) * 측정 목적 * 측정 조건 * 측정 결과 초 근접 관찰 가능 (0.2nm), 원소 정밀 mapping STEM: incoherent scattering, atomic ... image 측정 , 1~10 KeV 연료전지 양극 표면의 FIB-SEM image 코팅 면을 나타낸 FIB-SEM image리튬 이온전지 첨단 분석 방법 AFM (Atomic Force Microscope ... a lithium salt (LiClO 4 ) in an ionic liquid ( bmim SCN) solution리튬 이온전지 첨단 분석 방법 EXAFS XANES XANES Electronic

  리포트 | 10페이지 | 1,500원 | 등록일 2010.12.10

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  전자현미경 레포트 - 주사전자현미경(SEM)을 이용한 다양한 모발 상태 비교

  [그림1] 시편에 전자가 입사할 경우 발생하는 여러 종류의 신호주사전자현미경(scanning electron microscope, SEM)은 시표의 표면을 자세히 연구하는 데 매우 ... [표1] 현미경의 해상능력현적으로 2차 전자(Secondary Electron)를 검출하며, 그 외에도 BSE, WDS, EDS를 주로 사용하고 있다.

  리포트 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2014.03.13

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  [세포생물학실험] 현미경의 종류와 각각의 쓰임새

  주사전자현미경- 최근에는 미생물의 표면을 상세하게 관찰하는데 주사전자현미경(scanning electron microscope, SEM)을 사용한다. ... 투과전자현미경그림) 투과전자 현미경의 외형- 투과전자현미경(transmission electron microscope, TEM)의 실질적인 분해능은 광학현미경에 비해 대략 1된다. ... 대안렌즈가 2개 있어 한꺼번에 두 눈으로 관찰할 수 있는 현미경을 쌍안현미경(binocular microscope)이라고 한다.

  리포트 | 5페이지 | 1,500원 | 등록일 2010.06.24

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  스퍼터링으로 제조된 니켈실리사이드의 미세구조 및 물성 연구

  한국재료학회 안영숙, 송오성, 이진우

  논문 | 6페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05

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  분광법(XPS, AES) 과 현미경 (SEM, TEM, STM, AFM)을 이용한 표면 분석 원리

  이는 SEM 영상의 X-선 형광분석을 할 수 있는 기본이 된다.주사 탐침 현미경 (Scanning probe microscopes, SPM)SPM은 원자 수준 크기까지 시료의 표면을 ... 전자 현미경 분석법 중 두가지 중요한 방법은 주사 전자현미경 법 (Scanning electron microscopy, SEM) 과 투과 전자 현미경 법 (Transmission Electron ... 바깥껍질 전자중 하나가 제거되면 내부전자가 느끼는 유효 전하는 증가하고, 따라서 결합에너지가 증가하게 된다.2.1) Auger electron spectroscopyXPS와 달리 AES는

  리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2012.10.19

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  탄소강 파단면 검사

  ryumImpact Energy(충격에너지), Fractography(파면 조사), Brittle Fracture(취성파괴), Ductile Fracture(연성파괴), Scanning Electron ... Microscop(SEM, 주사전자 현미경)Abstract충격 시험은 취성에 대한 재료의 민감성을 결정하기 위하여 실행된다.[1] 충격 시험은 하중이 가해지는 방법에 따라 충격 굽힘 ... On a microscopic scale the commonly observed fracture modes are cleavage, quasi-cleavage, and dimpled

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.11.25

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  gram staining & negative staining

  이 때 흡수파장과 방출되는 파장이 다른 것이 원리이다.⑤ Electron Microscope (전자현미경)- 가시광선보다 파장이 작은 전자를 광학렌즈대신 전자렌즈를 사용하여 시료에 ... 현미경(Microscope)1) 종류① Brightfield Microscope (광학현미경)- 표본에 빛을 비추어 그 표본을 통과한 빛이 대물렌즈에 의해 확대된 실상을 맺고, 이것을 ... (암시야현미경)- 바탕이 검은색이며, 관찰 물질의 테두리만 하얗게 보인다.③ Phase-contrast Microscope (위상차현미경)- 다른 현미경과는 달리 높이의 구분이 가능하다

  리포트 | 6페이지 | 1,500원 | 등록일 2011.05.01

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  S45C(1045 steel), Muntz metal(60%Cu - 40%Zn) 분석

  This electron analyse the topography.2. ... In order to discover the microstructure and composition of material, microscope is used generally. ... is device that provides microstructure image of a specimen magnified by a reflected light microscope

  리포트 | 5페이지 | 1,500원 | 등록일 2011.01.02

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  ZnO나노입자 합성(1)

  Microscope ) 전자선이 전자 시료를 통과하여 형광판에 상을 맺는다. ... 화학용기의 표면탄소 광섬유가 폴리머 접착제 사이에 들어있는 단면폴리머 코팅한 것을 원자현미경으로 찍은 사진컴퓨터용 하드디스크를 원자현미경으로 찍은 사진TEM (Transmission Electron ... 전자선(광원)에서 나온 빛을 이용하여 표면을 관측하는 방법.SEM 의 전체사진AFM(atomic force microscope ) STM의 가장 큰 결점은 전기적으로 부도체인 시료는

  리포트 | 36페이지 | 3,000원 | 등록일 2011.05.30

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  침전법을 이용한 이산화티탄 입자 제조에 알콜과 온도가 미치는 영향에 관한 연구

  한국유화학회 김덕술

  논문 | 8페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05

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  SEM과 X선 분광분석 (EDS)

  그러나 이 글에서는 최근 나노기술의 발달과 함께 각광을 받고 있는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)과 에너지 분산형 X-ray 분광분석기(Enery ... 다양한 미세 분석 기술 (주1)입사빔측정신호분석기술전자Auger 전자Auger Electron Spectroscopy이차전자주사전자현미경(SEM + Secondary Electron ... Detector)후방산란전자후방산란전자현미경(SEM + Back Scattered Electron Detector)투과전자투과전자현미경 (TEM)특성 X선Electron Probe

  리포트 | 10페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.22

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  무기재료 실험 정리

  Microscope)은 고상의 미세 조직과 형상을 관찰할 때 쓰이는 현미경이다.초점 심도가 깊고 3차원 영상의 관찰이 용이해서 복잡한 표면구조나 결정 구조 등의 입체 형상을 고배율로 ... 02와 반응, 고순도의 TiO2주자형 전자 현미경(SEM)-SEM 분석 : 구조물성 분석, 비교 [광학 현미경] , 특징, 원리, 구성, 실험 과정주사전자현미경(Scanning Electron ... 관찰하고자 하는 시편부위를 주사하여 영상을 만든다.이 과정에서 여러 형태의 방사선(Radiation)이 발생하지만 시편의 표면에 가까운 영역에서 발생하는 이차전자 (secondary electron

  시험자료 | 11페이지 | 2,000원 | 등록일 2014.12.10

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  광학현미경(LM), 투과전자현미경(TEM), 주사전자현미경(SEM)의 원리

  투과 전자 빔으로는 명시야, 상을 회절 빔으로 암시야 상을 얻는다.② 주사전자현미경 (SEM)주사전자현미경 (scanning electron microscope(SEM))은 전자가 ... 광학현미경과 투과현미경(TEM) 그리고 주사전자현미경(SEM: Scanning Electron Microscope)과의 광경로(optical path)를 비교하면 아래의 그림과 같다.투과 ... microscope)에는 투과전자현미경(TEM)과 주사전자현미경(SEM)의 두 종류가 있다.

  리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.03.19

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  소결온도에 따른 압전세라믹스(PZT)의 물리적, 전기적 특성 관찰

  전자현미경 (Scanning Electron Microscope: SEM)을 이용하여 각 층에 대해 고배율 촬영을 해본 결과 [그림.1]에 보였듯이, 전극 표면은 금속 특유의 거친

  리포트 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2014.11.16

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