Atomic Force Microscopy(AFM)

소개글

Atomic Force Microscopy(AFM)을 완전 분석해 놓은 보고서입니다.

목차

□ 실험목적
□ 실험원리
● 광학현미경(LM, Light Microscope)
● 전자현미경 (EM, Electron Microscope)
● 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
● STM과 AFM
● AFM을 이용한 고분자 연구
● 차원 및 배율
● 압전 세라믹 트랜스듀서
● 힘 센서(Force Sensors)
● 피드백 제어
● AFM의 원리
● Contact AFM
● Non-contact AFM
● 원자현미경으로 이미지의 측정
● 원자현미경의 해상도
● 프로브와 표면의 상호 작용
● 표면 구조의 분석
□ 참고문헌

본문내용

□ 실험목적 : 원자현미경(AFM)의 원리와 용도에 대해 알아본다.

□ 실험원리
● 광학현미경(LM, Light Microscope)
유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.
○ 일반광학현미경(light or bright-field microscope)
대물렌즈로 1차 확대상을 대물렌즈로 2차 확대상을 만든다.

○ 위상차현미경(phase contrast microscope)
굴절률의 차이를 이용하여 표본(시료)를 관찰하는 방법으로 염색되지 않은 살아있는 세포를 관찰하는데 유용하나 굴절률이 낮은 일반 염색된 시료에는 부적합하다.

○ 간섭현미경(interference microscope)
물체가 빛을 지연시키는 현상을 이용하여, 표본을 투과한 물체 광에 광원에서 분리된 간섭광을 겹치게 하여 광파장에 대한 간섭현상으로 투명한 표본에서도 그 구조가 뚜렷이 나타나게 하는 원리를 이용한다.

○ 암시야현미경(dark-field microscope)
이것은 암시야를 이용하는데, 햇빛이 비스듬히 비추는 곳의 거미줄의 경우 창 밖의 밝은 배경을 바라볼 때(배경이 밝을 때)는 관찰이 어려우나, 우리가 시각을 달리하여 어두운 곳을 바라볼 때(어두운 배경을 선택할 때) 거미줄이 오히려 잘 관찰되는 현상과 같은 원리로 일반현미경으로는 관찰이 어려운 혈액속의 작은 지방입자 등의 관찰이 가능하다.

○ 편광현미경(polarizing microscope)
편광현미경은 두 개의 편광프리즘(또는 니콜프리즘)을 이용한 것인데, 자연광에는 여러 진동방향이 섞여있으나 편광프리즘을 이용하여 특정한 파장만 통과시키는 두 개의 필터(프리즘)가 광선 경로에 서로 90도 각도를 이루어 앞뒤로 나란히 있을 때 어떤 빛도 투과되지 않는 원리를 이용하였다. 두 번째 필터가 그 선택을 바로 통과시킬 수 없을 정도로 첫 번째 필터가 진동 방향을 선택한다. 그 두 번째 필터를 "분해기(analyzer)"라고 일컫는데 왜냐하면

참고 자료

● http://www.tecsco.co.kr/main/spm-spm.html
● http://library.kriss.re.kr/msjournal/1998/212/21204.html
● http://km.naver.com/list/view_detail.php?dir_id
=60601&docid=1129441