x-선 회절을 이용한 분석법
- 최초 등록일
- 2008.04.18
- 최종 저작일
- 2008.04
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소개글
인터넷 내용이 아니라 책 내용 참고하여 직접 작성하였습니다.
목차
(1) Laue법 (리우에 카메라를 사용한 분석법) · · · · · · · · · · · · · · · · p. 2~5
(2) 회절결정법 · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · p. 6~7
(3) 분말법 · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · p. 8~11
(4) 디프랙토미터 · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · p. 12
본문내용
(1) Laue법 (리우에 카메라를 사용한 분석법)
Laue법은 가장 오래된 회절방법이며 Von Laue가 최초의 실험에 사용한 것이다.
- 방법 :
백색 X-선빔 즉 X-선관에서 나오는 연속스팩트럼이 고정된 단결정에 맞도록 한 것이다. 따라서 Bragg각은 결정의 어느 면에 대해서도 고정되고 있어, 각각의 면은 각각의 와 에 대하여 Bragg법칙을 만족시키는 파장의 X선을 선택하여 회절한다.
- 원리 :
원추의 측면은 투과빔에 접하고 있으며 정대축(Z.A)과 빔이 만드는 각 원추의 정각(apex angle)의 반과 같다. 그림에서 보듯이 필름은 필름중심을 지나는 가공의 타원으로 원추와 만난다. 정대면에 의해서 회절된 빔은 이타원위에 점으로서 배열한다. 각가 를 넘으면, 배면반사무늬를 하기 위해서 결정과 X-선원의 중간에 놓은 필름은 (b)에서 보듯이 원추와 쌍곡선으로 만난다.
정대의 면에 의한 Laue 반사가 원추의 표면위에 있다는 사실을 스테레오무상으로 잘 나타낼 수 있다. 에서 결정은 기준구의 중심에 있고, 입사빔 I는 왼편에서 들어와서 투과빔 T는 오른편으로 나간다. 정대축을 나타내는 점은 기준구의 원주위에 있으며, 이 정대에 속하는 5개의 면의 극 에서 까지는 그림에 나타낼 대원위에 있다. 이중의 한 면 예컨대 에 의한 회절빔의 방향은 다음과 같이 찾을 수 있다. I, , (회절방향), 는 모두 같은 평면위에 있다. 따라서 는 의 반대축에, 그림에서 나타나 있는 바와같이, 같은 각인 점에 있다. 이와같이 하여 결정된 회절빔 에서 는 한 소원위에 있다. 이 소원은 기준구와 정대축을 축으로 하는 원추와의 교선이다.
필름에 나타나는 반점의 위치는 투과법이건 배면반사법이건간에 입사빔에 대한 결정방위에 따라서 결정된다. 만일 결정이 휘었다든가 또는 뒤틀렸다면, 반점의 모양은 일그러지거나 흐려진다. 이러한 사실로 Laue법의 중요한 용도에는 두가지가 있다. 즉 결정방위의 결정과 결정의 완전도의 판단에 이용하고 한다
참고 자료
Elements of X-ray Diffraction-second edition , B.D.Cullity , University of Notre Dame p100~132
실용x선 회절분석, 피어슨 에듀케이션 코리아, 이형직 역, p24~31