Atomic Force Microscopy(AFM)

*정*

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최초 등록일: 2008.01.09
최종 저작일: 2008.01; 16페이지/ MS 파워포인트; 가격 2,000원

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AFM의 원리 및 이해

본문내용

1. 주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope, SPM )
: 팁(tip)이라고 부르는 작고 뾰족한 탐침을 물질의
표면 위에서 2차원적으로 주사(scanning)하여
3차원적인 표면의 형상 및 구조에 관한 정보를 얻는 현미경

: STM(Scanning Tunneling Microscope)
AFM(Atomic Force Microscope)

2. 정의
: 원자 사이에 작용하는 원자힘을 측정에 이용하는 원자 현미경.
: Atomic Force Microscope의 약자로서 시료와 탐침 사이의 접촉 힘을 이용하여 원자수준의 해상도를 가지는 현미경으로서
뿐만 아니라 원자나 분자를 조작할 수 있는 장치

3. 특징
STM이 밴드갭이 큰 전기적으로 부도체인 시료의 표면은 관찰할 수 없음을 해결하기 위해 만들어짐.
터널링의 경우와 달리 진공, 공기, 용액 중에서도 작동이 가능하여 그 응용 범위가 넓다.
원자간 힘이 터널링보다는 민감하게 변하지 않아 해상도가 0.2 nm 정도이다.
자기력, 정전기력을 이용하여 측정도 가능하며, 힘 이외에 이온
전도도, 근접광 등의 거리에 따른 변화를 측정하여 여러 종류의
주사형 검침 현미경의 고안 및 제작이 가능하다.

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