Resistive circuit
- 최초 등록일
- 2007.10.14
- 최종 저작일
- 2007.10
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소개글
Resistive circuit 실험의 레포트 입니다. 실험을 통해 저항을 배열하는 방식에 따라 회로의 저항과 전압, 전류값이 어떻게 달라지는가를 알아보았다.
목차
1. 실험의 목적
2. 배경이론
3. 예비 실험내용
4. 실험 내용
5. 참고자료
본문내용
1. 실험의 목적
저항과 직류 전원으로 구성된 회로를 해석한다. 저항을 배열하는 방식에 따라 회로의 저항과 전압, 전류값이 어떻게 달라지는가를 고찰한다. 키르히호프의 전류 법칙과 전압법칙을 이용하여 간단한 선형회로를 해석해보고, 실험을 통하여 이를 검증해 본다. 또한 중첩의 원리를 이해하고 실험을 통하여 이를 확인한다.
3. 예비 실험내용
(1) MultiSIM을 이용하여 회로를 구성하고 다음 물음에 답하여라.
① 위 회로를 구성하고, 디지털 멀티미터 두 개를 이용해 각 저항에 걸리는 저항을 측정한다.
멀티미터 두 개를 이용해 각각의 멀티미터 내부 저항을 측정했다.
Status - Ammeter Resistance : 1nΩ
- Voltmeter Resistance : 1GΩ
전류모드일때 : 0Ω
전압모드일때 : 999.001MΩ
② R1=1kΩ, R2=100Ω 일 때, R1과 R2에 걸리는 전압을 측정한다. 멀티미터의 저항 측정시의 내부 저항값을 세팅된 값의 10배, 100배, 1000배로 변화시켜 가면서 오차를 알아본다.
구성된 회로의 저항에 비해 Voltmeter의 저항이 아주 크다면, 병렬로 연결된 Voltmeter에는 아주 미약한 전류만 흐르므로 회로에 큰 영향을 주지 못한다. 그래서 ②의 실험에서는 Voltmeter가 전혀 영향을 주지 못한 것을 확인 할 수 있었다. 반면에 ⑤의 실험을 보면 Voltmeter가 회로에 아주 큰 영향을 끼치고 있음을 볼 수 있다. ③의 실험을 보면 멀티미터의 저항을 크게 하지 않았을 때에는 Voltmeter가 회로에 약간의 영향을 주었음을 확인 할 수 있다.
참고 자료
R.C. Dorf and J.A. Svoboda, Introduction to Electric Circuits : Wiley, 2004.
“휘트스톤 브리지의 응용” March 2005,
http://kin.naver.com/browse/db_detail.php?d1id=11&dir_id=110209&docid=773493