[공학기술]SEM & TEM

소개글

1. TEM은 시료를 전자빔이 투과되어 상을 맺으므로 시료의 단면을 관찰하는 장비이다.
2. SEM은 시료 위에 전자빔을 주사하여 상을 얻으므로 일반적으로 시료의 외부구조를 입체적으로 관찰하는데 적합한 장비이다.

목차

1.1. 현미경
1.2. 현미경의 종류
1.3. 전자 현미경
1.4. 전자현미경의 관찰과 응용 범위
1.5. 고분자소재의 특성과 전자현미경
1.6. 전자현미경을 위한 기본용어 해설
2.1. SEM의 기본 원리
2.2. SEM의 특징
2.3. SEM의 용도와 비교
2.4. SEM의 구조
2.5. EDS (에너지 분산형 X선 측정기: Energy Dispersive X-ray Microanalysis)를 이용한 원소 분석.
2.6. 전자빔과 고분자소재와의 상호작용
2.7. 주사전자현미경 분석을 위한 시료 준비법
3.1. TEM의 기본 원리
3.2. TEM의 콘트라스트
3.3. 진폭 콘트라스트 증대방법

본문내용

1.1. 현미경
: 현미경은 물체의 미세한 부분을 확대하여 관찰하는데 사용되어 왔다. 대개의 경우는 대물렌즈와 접안렌즈를 갖추고 있는 현미경을 말하나, 넓은 뜻으로는 전자선을 이용하는 전자현미경을 포함하며, 확대경도 단일 렌즈계를 갖는 단현미경이라 할 수 있다. 종류와 형은 사용목적•제작연대•제작회사의 차이에 따라 여러 가지가 있으나 구조적으로 분류하면, 가장 일반적인 투과현미경 이외에 금속현미경•편광현미경•형광현미경•위상차현미경•자외선현미경 등의 특수한 것들이 있다. 현미경이 물체의 상을 확대하는 원리는 초점거리가 짧은 대물렌즈에 의하여 얻어지는 확대된 도립실상(倒立實像)을 접안렌즈로 다시 확대하는 것이다. 이 결상관계(結像關係)는 대단히 예민하여 물체와 대물렌즈 사이의 거리가 조금만 변하여도 바른 상을 맺지 못한다.
1.2. 현미경의 종류
1. 광학현미경(LM, Light Microscope)
: 유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.
가. 일반광학현미경(light or bright-field microscope)
: 이미 자료실의 현미경의 원리에서 설명했듯이 대물렌즈로 1차 확대상을 대물렌즈로 2차 확대상을 만든다.
나. 위상차현미경(phase contrast microscope)
: 굴절률의 차이를 이용하여 표본(시료)를 관찰하는 방법으로 염색되지 않은 살아있는 세포를 관찰하는데 유용하나 굴절률이 낮은 일반 염색된 시료에는 부적합하다.

참고 자료

1. 인교진, 고분자 과학과 기술, 7, 437
2. 박종래, 고분자 과학과 기술, 7, 75
3. http://myhome.naver.com/inca_wave/
4. http://ksemt.com