TTL 기본 디지털회로 실험

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최초 등록일: 2007.03.16
최종 저작일: 2007.03; 14페이지/ 한컴오피스; 가격 1,000원

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제 1장 기본 논리게이트(AND, OR, NOT)
제 2장 UNIVERSAL Gate(NAND, NOR)
제 3장 Exclusive-OR, A.O.I 게이트

본문내용

제 1장 기본 논리게이트(AND, OR, NOT)

1. 실험 목적
- 기본 게이트(AND, OR, NOT) 의 동작특성을 이해하고, 이들을 응용할 수 있는 능력을 기른다.

2. 사용 기자재 및 부품
- 논리실험기(Digital Logic Lab. Unit), 오실로스코프, 7408(4조 2입력 AND Gate), 7432(4조 2입력 OR Gate), 7411(3조 3입력 AND Gate), 7421(2조 4입력 AND Gate), 7404(6조 Inverter), 저항(680Ω, 220Ω), 콘덴 서(0.01μF)

제 2장 UNIVERSAL Gate(NAND, NOR)

1. 실험 목적
- 논리회로에서 가장 많이 사용되는 Universal 게이트인 NAND, NOR 게 이트의 기본 논리동작 및 특성을 실험을 통하여 이해한다.

2. 사용 기자재 및 부품
- 논리실험기(Digital Logic Lab. Unit), 오실로스코프, 7400(4조 2입력 NAND Gate), 7410(3조 3입력 NAND Gate), 7402(4조 2입력 NOR Gate), 7427(3조 3입력 NOR Gate), 7408(4조 2입력 AND Gate), 7432(4조 2입력 OR Gate), 7411(3조 3입력 AND Gate), 7404(6조 Inverter)

제 3장 Exclusive-OR, A.O.I 게이트

1. 실험 목적
- Exclusive-OR(XOR) 게이트의 기본 논리동작 및 특성을 실험을 통하여 이해하며 그 응용회로를 학습한다.

2. 사용 기자재 및 부품
- 논리실험기(Digital Logic Lab. Unit), 오실로스코프, 7486(4조 2입력 XOR Gate), 7400(4조 2입력 NAND Gate), 7408(4조 2입력 AND Gate), 7432(4조 2입력 OR Gate), 7451(2조 A.O.I Gate), 7404(6조 Inverter)

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디지털논리회로실험

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