세라믹공학실험 보고서 (Image processing & Nanowire fabrication report)

소개글

세라믹공학 실험 보고서입니다.
주제는 Image processing & Nanowire fabrication report
워드10장

목차

1. 분석자료
2. report.docx
3. supplement.pdf

본문내용

Ⅰ. Introduction & Method of experiment

작은 물체를 확대해서 보기위해서 현미경을 사용하는데, 이러한 현미경 중에는 가시광선을 사용하는 OM(Optical Microscopy)이 있다. 대기중의 가시광선은 polychromatic, nonpolarized, noncoherent, divergent하기 때문에, 이것을 사용할 경우 좋은 결과를 얻기가 힘들다. 따라서 monochromatic, linearly polarized, coherent, collimated한 레이저를 사용하여 더 좋은 결과를 얻을 수 있다. 하지만 이렇게 해서 좋은 결과를 얻을 수 있다고 하더라도, 확대 비율적인 측면에서 한계가 명확하다. 따라서 전자선이 시료면 위를 주사(scanning)할 때 시료에서 발생되는 여러 가지 신호 중 그 발생확률이 가장 많은 이차전자(secondary electron) 또는 반사전자(back scattered electron)를 검출하는 것으로 대상 시료를 관찰하는 SEM(Scanning Electron Microscope)을 통해서 더욱 높은 비율의 상을 얻을 수 있을 것이다.
이렇게 얻을 상을 분석할 때, 이미지 속에서의 어떤 길이를 측정해야하는 경우가 자주 발생하게 된다. 이러한 길이를 측정하기 위해서 이미지프로라는 프로그램을 사용하는 경우가 있는데, 이미지의 각 pixel의 intensity를 숫자의 형태로 표현하게 한다. 밝을수록 intensity는 높은 숫자로 표현되고, 어두운 부분은 낮은 숫자로 표현된다. 이러한 숫자를 pixel에 대한 intensity의 그래프로 표현하는 경우 어떤 픽셀의 밝기의 변화를 직관적으로 알 수 있게 될 것이다. 이러한 변화를 통해서 기준이 되는 두 점을 찾을 수 있고, 두 점 사이에 몇 개의 pixel이 들어가는 지를 통해서 길이를 확인할 수 있을 것이다.

참고 자료

Adv. Mater. 2011, 23, 1968–1970
J. Mater. Res. 1995 , 10 , 1327
http://terms.naver.com/entry.nhn?docId=1261010&cid=40942&categoryId=32354
[네이버 지식백과] 주사전자현미경 [Scanning Electron Microscope] (두산백과)
https://en.wikipedia.org/wiki/Optical_resolution
http://terms.naver.com/entry.nhn?docId=858064&cid=50371&categoryId=50371
https://en.wikipedia.org/wiki/Depth_of_field#Derivation_of_the_DOF_formulae
https://en.wikipedia.org/wiki/Depth_of_focus

압축파일 내 파일목록

1.jpg
20160926 50x scale bar.tif
Nanowire 제작 2.avi
Report.docx
supplement.pdf
분석자료/1.jpg
분석자료/11.jpg
분석자료/2.jpg
분석자료/22.jpg
분석자료/3.jpg
분석자료/33.jpg
분석자료/4.jpg
분석자료/44.jpg
분석자료/wires.jpg
분석자료/그래프.jpg
분석자료/제목 없음.jpg
분석자료/제목 없음.png
분석자료/픽셀크기.jpg

전체 목록 보기