전자전기컴퓨터설계실험1(전전설1) (3) 계측기3(오실로스코프, 함수 발생기)
- 최초 등록일
- 2019.06.04
- 최종 저작일
- 2018.03
- 17페이지/ 한컴오피스
- 가격 2,000원
* 본 문서(hwp)가 작성된 한글 프로그램 버전보다 낮은 한글 프로그램에서 열람할 경우 문서가 올바르게 표시되지 않을 수 있습니다.
이 경우에는 최신패치가 되어 있는 2010 이상 버전이나 한글뷰어에서 확인해 주시기 바랍니다.
소개글
"전자전기컴퓨터설계실험1(전전설1) (3) 계측기3(오실로스코프, 함수 발생기)"에 대한 내용입니다.
목차
Ⅰ. 서론
1. 실험 목적
2. 실험 이론
2.1. 축전기(capacitor)
2.1.1. 축전기의 구조
2.1.2. capacitance
2.1.3. 축전기 내의 전하와 전압의 변화
2.2. 코일(inductor)
2.2.1. 코일의 구조
2.2.2. inductance
2.2.3. 코일 내의 역기전력과 출력전류의 변화
2.3. 다이오드(diode)
2.3.1. 다이오드의 구조
2.3.2. 다이오드의 특징
Ⅱ. 본론
1. 실험 장비
2. 실험 방법
2.1. 실험 1
2.2. 실험 2
2.3. 실험 3
2.4. 실험 4
2.5. 실험 5
2.6. 실험 6
2.7. 실험 7
3. 실험 결과
3.1. 실험 1
3.2. 실험 2
3.3. 실험 3
3.4. 실험 4
3.5. 실험 5
3.6. 실험 6
3.7. 실험 7
Ⅲ. 결론
Ⅳ. 참고문헌
본문내용
Ⅰ. 서론
1. 실험 목적
본 실험에서는 오실로스코프와 함수 발생기의 사용방법을 숙지하고, 실제 회로를 구성하여 다양하게 조건을 변경시키며 각 소자에 인가되는 전압과 전류를 측정한다.
<중 략>
2. 실험 방법
2.1. 실험 1
(1) 회로를 [사진 7]과 같이 구성하시오(V1의 Vpp = 5V, 주파수 = 1㎑, Square Wave로 설정한다).
(2) (Z = 50Ω)을 사용했을 때의 파형을 관찰하시오.
(3) (Z = 0.22㎌)을 사용했을 때의 출력 파형을 관찰하고 파형이 달라지는 이유를 쓰시오.
(4) (Z = 1mH)을 사용했을 때의 출력 파형을 관찰하고 파형이 달라지는 이유를 쓰시오.
(5) (Z = Open/Short)일 때의 출력 파형을 관찰하고 파형이 달라지는 이유를 쓰시오.
2.2. 실험 2
(1)[사진 7]의 회로에서 Z를 Capacitor(0.22uF)와 Inductor(1mH)를 각각 사용했을 때, 주파수를 10㎑ ~ 100㎑까지 10㎑의 간격으로 Vpp=5V sinusoidal 파형을 인가하라. 각 주파수에 대한 Vo를 측정하고, 측정된 전압 파형의 크기를 graph에 도시하라(x축은 주파수 y축은 측정 전압으로 할 것). 이때 함수 발생기의 Output Setup Load는 50Ω으로 설정하라.
참고 자료
「계측기3(오실로스코프, 함수 발생기)」, 『서울시립대학교 전자전기컴퓨터공학부』.
「시상수」, 『전자용어사전』.
<http://terms.naver.com/entry.nhn?docId=760209&cid=42341&categoryId=42341> (2018.03.29.)
「다이오드」, 『컴퓨터인터넷IT용어대사전』, (2011.01.20.).
<http://terms.naver.com/entry.nhn?docId=821001&cid=42344&categoryId=42344> (2018.03.29.)
「TDS2000 Series 한글 매뉴얼」, 『Tektronix』.
<http://kr.tek.com/> (2018.03.29.)