XRD,XRF

목차

1. 구성
2. 장치 취급상의 주의점
3. X-ray 발생원리
4. 종류

본문내용

단결정 또는 분말시료에 의한 단색 X선의 회절각을 바꾸면서 회절선의 세기를 계수관으로 측정하여, 세기와 각도를 자동으로 기록하는 장치이다.
그림 I 와 같이 브래그의 식 2d sinθ＝nλ(θ는 입사각, d는 격자면 간격, λ는 X선의 파장, n은 상수)를 만족시키도록 결정과 검출 장치의 위치를 결정하는 고니오미터와 검출 장치로 되어있다. 보통, 검출장치의 경우 계수관이나 이온화 상자가 이용된다.

다음은 X선 회절계에 의해 다음과 같은 측정이 행해진다.
① 단색 X선에 의한 단결정의 반사 강도 측정
정밀 측정을 할 수 있어 정밀 구조 해석에 유리하다. ② 단색 X선에 의한 분말 결정의 산란 강도 분포의 측정
가장 많이 응용되며 물질을 동정하는 데 편리하다. 이 목적으로 특별히 설계된 회절계에 는 그림 Ⅱ와 같은 집광형의 것이 있다.③ 면 간격을 알고 있는 결정의 면 반사를 이용하여 입사 X선 파장의 스펙트럼 분석을 한다. 이 목적으로 사용되는 경우 특히 X선 분광계라고 한다. 시판되고 있는 자동 기록 X선 회 절계는 자기 X선 분광계라고도 하며 ②, ③의 목적을 위해 설계되어 있으며 계수관에서 읽은 수치를 자동적으로 기록한다.

참고 자료

없음