AFM의 원리 & 특징(예비)

목차

1. 실험제목
2. 실험날짜
3. 이론 및 배경
4. 참고문헌

본문내용

(1) 현미경의 종류
1) 광학 현미경 (Optical microscopy)
- 가장 보편적으로 사용되는 현미경
- 광원으로 프레파라트에 빛을 비추면 시편을 통과한 빛이 프레파라트와 접한 대물렌즈에 의해 확대되고, 확대된 상이 눈과 접하는 접안렌즈로 관찰된다.
- 광학현미경은 빛을 이용하기 때문에 사물을 약 1000배 이상 확대할 수 없고, 빛의 파장 보다 작은 물체는 관찰하기 어렵다.

2) 전자 현미경 (Electron microscopy)
- 빛 대신에 전자를 이용
- 빛의 파장은 일정하지만 전자의 파장은 전자의 속도에 반비례 ⇨ 전압을 높여서 전자의 속도를 빠르게 하면 파장이 짧아지기 때문에 광학현미경보다 훨씬 더 작은 물체 관찰 가능
① 주사 전자 현미경 (Scanning electron microscopy)
- 전자를 시편에 쏘아줄 때 시편의 표면에서 반사되는 전자를 검출하는 현미경
② 투과 전자 현미경 (Transmission electron microscopy)
- 전자를 시편에 쏘아줄 때 시편을 통과한 전자를 이용하는 현미경

참고 자료

현미경으로 본 세상 웰컴 투 더 마이크로 월드, p.10~15, 홍영식, 이치Science[2008]
Atomic force microscopy in process Engineering, p.2~23, p.34, W. Richard Bowen, Nidal Hilal, Butterworth-Heinemann[2009]