투과 전자 현미경TEM

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투과 전자 현미경TEM에 관해 상세히 조사한 보고서입니다. 에이뿔 받았습니다.

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본문내용

투과 전자 현미경(TEM)은 전이와 그 밖의 다른 결정결합 특성을 결정하고, 크기가 마이크로미터 이하인 석출물과 그 밖의 다른 미세구조들의 화학적, 결정학적 분석을 수행하는 데 있어서 뛰어난 방법이다.
어떤 TEM도 자기렌즈, 여러 개의 조리개, 시료 지지대, 영상 기록/조망 계로 되어 있는 복잡한 조립체이다. 자기렌즈는 전자총과 시료 사이의 조명계의 요소와 시료를 지난 후 영상계의 요소로 나뉠 수 있다. 전형적으로 조명계에서는 두 가지의 집광렌즈가 있고 영상계에서는 세 가지 렌즈가 있다. 아래의 기술은 유형의 TEM에 관한 것이다.
첫째로 ‘그림1’의 위에 나타낸 조명계를 보자. 전통적인 TEM 방식은 집광렌즈 C1과 C2를 조정하여 시료를 거의 평행한 빔으로 비추는 것이다. 이 빔은 20,000X과 100,000X 사이의 배율에서 직경 수 마이크로미터의 시료 부위를 덮는다. 전자빔을 알고자 하는 부위에 집중하는 집관렌즈의 작동 없이는 영상은 너무 희미해서 유용하지 않다. 영상 외의 다른 응용을 위해서 고도로 수렴하는 빔을 만들 수도 있다. 시료 전의 주사 코일이나 편향 코일은 흔히 빔의 위치나 각도를 조절하기 위해서 쓰인다.

참고 자료

B.D.Cullity & S.R.Stock, 『X선 회절 Elements of X-ray Diffraction』, 진샘