설계1. C 측정회로 설계(결과)

소개글

C 측정회로 설계(결과)

목차

설계1. C 측정회로 설계
1. 목 표
2. 이 론
3. 실 험
2. 고 찰

본문내용

2. 고 찰
이번 실험의 목표는 우리가 알 수 없는 C값을 측정하는 것이다. 예비에서 조사한 2가지 방법(741 IC를 이용한 사각파 발생 회로를 이용하여 C를 측정하는 방법과 NE555를 이용한 Sq Wave Generator를 이용하는 방법)이 있었지만 741 IC을 이용한 회로를 통해 C값을 측정해 보았다.
우선 741 IC을 이용한 사각파 발생 회로를 구성하였다. 이 회로의 문제점은 저항의 값에 따라 C값이 많은 영향을 받기 때문에 이의 문제를 해결하기 위해서 값을 알고있는 C를 통해 가장 영향을 적게 받고 정확한 측정값이 나오는 저항을 알아보았다. 을 각각 변화시켜 가며 측정한 결과 에서 가장 정확한 C값이 나오는 것을 확인 할 수 있었다. 이를 통해 우리가 모르는 C와 저항을 통해 구성한 회로를 가지고 오실로스코프를 통해 출력파형을 확인한 결과 사각파가 나오는 것을 확인 할 수 있었다. 이 사각파의 주기를 통해 C값을 측정 할 수 있다. 일 경우 의 식을 통해 구해보았다. 그 결과 이므로 이 된다는 것을 확인 할 수 있었다. 이 값과 실제 C값을 확인해보면 C값의 코드가 102 즉, 인 것을 보면 실험결과와 거의 일치하는 것을 알 수 있다. 저항 값의 오차나 Breadboard의 내부저항, 그리고 아날로그 오실로스코프의 값을 읽는 과정에서의 오차를 생각해본다면 매우 잘된 설계 실험임을 알 수 있다.
이번 설계를 통해 Reactance meter나 Capacitor 측정기가 없는 경우에도 741이나 NE555를 이용한 파형발생 주기를 통해 측정할 수 있는 방법을 알 수 있었다.

참고 자료

없음